场发射扫描电镜（FE-SEM）形貌观察

测试内容：二次电子（SE）形貌像、背散射（BSE）原子序数衬度像，放大倍率 10×–100 万×，常用 500×–5 万×区间出片。 适用样品：粉体颗粒、块体断口、薄膜与涂层截面、纤维、微纳结构。非导电样品由我们完成喷金/喷碳处理。 交付内容：标注版 TIFF/PNG 图片（每组样品不少于 6 张）、原始数据包、测试报告（含仪器型号与测试参数）。

块体样品建议 ≤10×10×5 mm（可切割制样）；粉体 ≥10 mg；薄膜需说明是否保留衬底。液体样品请先与工程师沟通干燥方案。

锂电池极片断裂失效分析：SEM 断口形貌 + EDS 面扫确认元素分布，48 小时内交付，辅助客户定位涂布工序异常。