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SEM-EDS 微区成分分析

SEM-EDS 微区成分分析

仪器型号

蔡司 Sigma 300 + Bruker XFlash 6|30

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常规周期

2-3 个工作日

样品方式

需要寄样

满意度

100%

测试内容:EDS 点扫(单点元素组成)、线扫(元素沿路径分布)、面扫(Mapping 元素分布图);可配合 BSE 像定位目标区域。 适用样品:异物与污染源判断、焊点与镀层成分检查、陶瓷/合金成分偏析、包裹体元素鉴定。检测范围 Be–U。 交付内容:元素定量表(wt%/at%)、面扫分布图、测试报告。轻元素(C/N/O)定量误差较大,仅供参考。

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