透射电镜（TEM）形貌与晶格观察

测试内容：TEM 明场/暗场像、高分辨（HRTEM）晶格条纹像、选区电子衍射（SAED）；可选配 EDS 能谱做微区成分。 适用样品：纳米颗粒（尺寸分布统计）、纳米线/片层结构、晶体缺陷（位错/层错）、非晶/晶态判定。 交付内容：标注版图片、衍射花样及初步指标化、粒径统计（≥100 颗粒）、测试报告。

粉体样品 ≥5 mg 并注明分散溶剂偏好；块体样品需离子减薄，周期与费用另行评估；样品请务必干燥、无挥发性溶剂残留。

催化剂纳米颗粒尺寸与分散性评价：HRTEM 晶格像 + 300 颗粒粒径统计，支撑客户烧结工艺优化对比。